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LJD-B型介電常數(shù)測定儀.平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選 極片間距可調范圍：≥15mm

硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量

陶瓷材料介電常數(shù)測試儀價格合格指示預置功能范圍：5～1000 11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃； 12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

介電常數(shù)及介質損耗檢測儀本標準規(guī)定了在15Hz?300MHz的頻率范圍內測量電容率、介質損耗因數(shù)的方法，并由此計算某些數(shù)值，如損耗指數(shù)。本標準中所敘述的某些方法，也能用于其他頻率下測量。 本標準適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關，例如頻率、溫度、濕度，在特殊情況下也與電場強度有關

LJD-B高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀LJD-B/C主機能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位

高頻介電常數(shù)測試儀廠家實心電絕緣材料的交流損耗特性和 電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法1 本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號

絕緣材料介電常數(shù)測定儀價格Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振和電壓比值原理工作的,Q表的指示Q值是包括被測件的有效Q值及測試回路固有殘量在內的整個諧振回路有效Q值,必須用Q表測試回路殘量修正Q表的指示Q值,這是Q表測量的一個重要特點。

介電常數(shù)和介質損耗測試儀怎么選適用于固體和液體絕緣材料介電常數(shù)及介質損耗因數(shù)的測試，測試能力符合以下標準（樣品尺寸應按標準要求制作）：